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集成電路高低溫環(huán)境試驗(yàn)裝置 用于檢測(cè)電子、電器、通訊、儀表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天、科研等領(lǐng)域之材料物理特性及產(chǎn)品運(yùn)行性能在各種環(huán)境下的耐熱、耐寒、耐干、耐濕試驗(yàn)。盡早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品不良缺陷,提高產(chǎn)品使用壽命.

檢驗(yàn)環(huán)境指標(biāo)高低溫檢測(cè)室雙90溫濕度測(cè)試 適用于電工、電子、機(jī)械及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫試驗(yàn)，濕熱試驗(yàn)，模擬溫濕度變化條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測(cè)試 1-1內(nèi) 尺 寸 50*40*50cm （W* D*H） 1-2外 尺 寸（約） 72 * 112 *151cm （ W*D*H ）

檢驗(yàn)環(huán)境指標(biāo)高低溫檢測(cè)室雙90溫濕度檢測(cè) 高低溫測(cè)試室是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能 1-3溫度范圍 -70℃~150 ℃ （氣冷式） 1-4降溫速率 20℃～-40 ℃ / 50 min （空載下）

皓天鑫高低溫試驗(yàn)箱 芯片儲(chǔ)存測(cè)試設(shè)備 高低溫測(cè)試室是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能 溫度范圍-70，,-60，-40,-20,0℃~150℃ 濕度范圍：0%RH ～98%RH 溫度波動(dòng)度：0.5℃ 升溫速率≥3°C/min 降溫速率≥1°C/min

高低溫交變溫?zé)岘h(huán)境試驗(yàn)箱評(píng)估燈具性能設(shè)備 高低溫交變溫?zé)岘h(huán)境試驗(yàn)箱用于評(píng)估燈具性能，可模擬各種溫度環(huán)境，測(cè)試燈具在不同環(huán)境下的性能表現(xiàn)。其具備溫度范圍廣、控制精度高、快速升降溫、交變溫?zé)崮M、濕度控制、安全保護(hù)措施和易于操作等特點(diǎn)。使用時(shí)需設(shè)定測(cè)試參數(shù)、放置燈具樣品、啟動(dòng)設(shè)備、監(jiān)控測(cè)試過(guò)程、記錄數(shù)據(jù)、分析結(jié)果和進(jìn)行設(shè)備維護(hù)。試驗(yàn)箱可用于評(píng)估燈具的耐候性能、能效、可靠性和安全性。